簡介：

特别适用于大回路(lù)或各種金(jīn)屬閉合回路(lù)導通(tōng)性的(de)直觀檢查，通(tōng)過測量被測回路(lù)電(diàn)阻，方便地(dì)實現(xiàn)對(duì)其連接質量及導通(tōng)性的(de)快速檢查和(hé)評估。

主要參數：